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和NI相约慕尼黑上海电子展 慕尼黑之约

作者:admin 更新时间:2025-03-27
摘要: 和NI相约慕尼黑上海电子展
欢迎来NI展位6.2H馆 C306
解开更多领先测试方法
将携手东方中科和孤波科技联合展出多项电子测试自动化方法:
● MCU验证方法
● 产品功耗测量方,和NI相约慕尼黑上海电子展 慕尼黑之约

 

和NI相约慕尼黑上海电子展

欢迎来NI展位6.2H馆 C306

解开更多领先测试方法

将携手东方中科和孤波科技联合展出多项电子测试自动化方法:

● MCU验证方法

● 产品功耗测量方法

● 超值电子功能测试平台TestScale

● 自动化测试体系管理方法等

大家还在现场准备了惊喜好礼,走过路过不要有失!

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(NI)